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經濟部計畫-專利讓與公告2021.07.13

《網頁公告日期:2021/7/13》

 

專利名稱

國別

申請號

申請日期

用於表面均化量測之方法、系統及感測器裝置 中華民國 109118099  2020/5/29
用於表面均化量測之方法、系統及感測器裝置 美國 16/886,971  2020/5/29
用於檢測設備之噴嘴 中華民國 109118098  2020/5/29
3D 打印套组、以及使用其进行3D 喷墨打印的方法 中國 202110046127.7  2021/1/14
3D列印套組、以及使用其進行3D噴墨列印之方法 中華民國 110101359  2021/1/14
3D列印套組、以及使用其進行3D噴墨列印之方法 美國 17/363,640  2021/6/30
一種檢測治具及檢測方法 中華民國 109118100  2020/5/29
晶圓加工方法及晶圓加工系統 中華民國 110107111  2021/2/26
拋光系統及其修整裝置 中華民國 110119567  2021/5/28
拋光系統及其修整裝置 美國 63/194,243  2021/5/28
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